详细介绍了SPC的统计学原理、SPC各个判异规则的事件概率的计算，和自定义SPC判异规则的设计和事件概率，让SPC判异更敏感。
np 控制图用于监测工艺过程中的不合格品数的变化是否处于可控状态，一般用于每批样本数 n 固定不变的情况。由于受监测的不合格品数等于每批样本大小 n 与不合格品率 p 的乘积 np ，因此不合格品数控制制图也叫做 np 控制图。
缺陷数控制图（C控制图）用于监控工艺过程中产生的缺陷数的变化情况，特别适用于每批检测对象数目相同的情况。 确定缺陷数控制图（C控制图）的控制限的原则是3σ方法
如何SPC控制图的选择，介绍一种可以遵循参考的路径，并且考虑到自相关再给出另一个SPC控制图选择的参考路径，同时罗列各类SPC控制图的应用场景，以帮助大家选择你需要的控制图。
在开展一个数据分析的时候，我们一般要探索一下数据的基本情况。一般我们看看各个变量的平均数、变量之间的相关性、变量是否有因果性、变量的分布情况等。看到那么多要探索的东西，通常情况下需要做很多工作。我们介绍一种直接从业务系统就完成一键分析，分析上述的所有内容的工具。
