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    详细介绍了SPC的统计学原理、SPC各个判异规则的事件概率的计算,和自定义SPC判异规则的设计和事件概率,让SPC判异更敏感。

    判异规则 自定义SPC
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    np 控制图用于监测工艺过程中的不合格品数的变化是否处于可控状态,一般用于每批样本数 n 固定不变的情况。由于受监测的不合格品数等于每批样本大小 n 与不合格品率 p 的乘积 np ,因此不合格品数控制制图也叫做 np 控制图。

    NP控制图
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    缺陷数控制图(C控制图)用于监控工艺过程中产生的缺陷数的变化情况,特别适用于每批检测对象数目相同的情况。 确定缺陷数控制图(C控制图)的控制限的原则是3σ方法

    C控制图