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    SPC控制图-不合格品数控制图(np图)

    np 控制图用于监测工艺过程中的不合格品数的变化是否处于可控状态,一般用于每批样本数 n 固定不变的情况。由于受监测的不合格品数等于每批样本大小 n 与不合格品率 p 的乘积 np ,因此不合格品数控制制图也叫做 np 控制图。

    确定不合格品数控制图的控制限采用 方法,不合格品数随机变量 D 的均值 μD=np ,标准偏差,因此不合格品数控制图( np 图)的中心线和上下限控制限为:

    一般情况下并不知道总体分布的参数 p ,按照下面的方法对参数 p 进行估计。

    设一共检验m批产品,每批产品包括的样本数和不合格品数分别为 ni和Di(i=1,2,3...,m) ,则可以用下面的公式得到的值作为总体参数 p 的估计值。

    如果每批样本量相同,均为 n ,则可以用每批产品的不合格品率 pi=Di/n(i=1,2,3...,m) 的平均值作为参数 p 的估计值。

    因此,不合格品数控制图的中心线和上下控制限为:

    由于不合格品数不可能为负值,如果就算的下控制限 LCL 为负值,则取下控制限 LCL=0

    点击这里查看我们的不合格品数控制图( np 控制图)的demo演示