• 广东省 深圳市 南山区
  • 茶光路1089号 深圳集成电路设计应用产业园4楼
  • 电话/微信:
  • 185 2058 7920
  • T
    SPC控制图-缺陷数控制图(C控制图)

    缺陷数控制图(C控制图)用于监控工艺过程中产生的缺陷数的变化情况,特别适用于每批检测对象数目相同的情况。

    确定缺陷数控制图(C控制图)的控制限的原则是3σ方法,由于一般情况下缺陷数服从泊松分布,如果已知泊松分布的参数λ,泊松分布的均值等于λ,标准偏差为λ的平方根,因此缺陷数控制图的控制限为:

    缺陷数控制图(C控制图)的控制限计算方法

    一般情况下我们并不知道参数λ,可以按照下面的方法,根据采集的数据计算λ的估计值:设一共检验m批产品,每一批产品中的缺陷数分别为ci,i=1,2,3,4...,m,则可以用这些缺陷数的平均值作为λ的估计值。

    缺陷数控制图(C控制图)的控制限计算方法

    由此得到控制限为:

    缺陷数控制图(C控制图)的控制限计算方法

    由于缺陷数不可能为负值,如果LCL为负值,则LCL=0。

    点击这里查看我们的缺陷数控制图(C控制图)的demo演示